书 书 书犐犆犛 ７７ ． １２０ ． ９９ 犎 １５ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A 犌犅 ／ 犜 ３６５９０ — ２０１８ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G28 /G29 /G2A /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G33 /G34 /G35 /G36 /G2D /G37 /G29 犕犲狋犺狅犱犳狅狉犮犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狔狊犻狊狅犳犺犻犵犺狆狌狉犻狋狔狊犻犾狏犲狉 — 犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狋狉犪犮犲犻犿狆狌狉犻狋狔犲犾犲犿犲狀狋狊犮狅狀狋犲狀狋狊 — 犌犾狅狑犱犻狊犮犺犪狉犵犲犿犪狊狊狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔 ２０１８  ０９  １７ /G38 /G39 ２０１９  ０６  ０１ /G3A /G3B /G27 /G28 /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G21 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A /G33 /G2F /G30 /G34 /G35 /G36 /G38 /G39书 书 书前 　　 言 　　 本标准按照 ＧＢ ／ Ｔ１．１ — ２００９ 给出的规则起草 。 本标准由中国有色金属工业协会提出 。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会 （ ＳＡＣ ／ ＴＣ２４３ ） 归口 。 本标准负责起草单位 ： 国标 （ 北京 ） 检验认证有限公司 。 本标准参加起草单位 ： 安徽华晶微电子材料科技有限公司 、 金川集团股份有限公司 、 峨眉山市峨半高纯材料有限公司 。 本标准主要起草人 ： 李娜 、 张金娥 、 张玲 、 刘英 、 刘红 、 李爱嫦 、 杨复光 、 张晓 、 程平 、 邱平 、 孙平 、 詹科 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 ３６５９０ — ２０１８ 高纯银化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法 １ 　 范围 本标准规定了高纯银中痕量杂质元素的测定方法 。 本标准适用于高纯银中痕量杂质元素含量的测定 。 各元素测定范围为 ０．００１ μ ｇ ／ ｇ ～ ５．０ μ ｇ ／ ｇ 。 ２ 　 方法原理 试料作为阴极进行辉光放电 ， 其表面原子被溅射而脱离试料进入辉光放电等离子体中 ， 离子化后再被导入质谱仪中进行测定 。 在每一元素测定同位素处以预设的扫描点数和积分时间对相应谱峰积分 ， 所得面积即为谱峰强度 。 在缺少标准样品时 ， 计算机根据仪器软件中的 “ 典型相对灵敏度因子 ” 自动计算出各元素的质量分数 ； 有标准样品时 ， 则需要通过在与被测样品相同的分析条件 、 离子源结构以及测试条件下对标准样品进行独立测定获得相对灵敏度因子 ， 应用该相对灵敏度因子计算出各元素的质量分数 。 ３ 　 试剂与材料 ３ ． １ 　 无水乙醇 。 ３ ． ２ 　 硝酸 （ １＋１ ）。 ３ ． ３ 　 氩气 （ φ ≥ ９９．９９９％ ）。 ３ ． ４ 　 质量校正参比样品 ： 在条件允许的情况下 ， 应使用仪器自带质量校正样品对辉光放电质谱仪进行精确质量校正 。 ３ ． ５ 　 除非另有说明 ， 试验中所用的试剂均为优级纯 ； 所用的水为电阻率 ≥ １８Ｍ Ω · ｃｍ －１ 的一级水 。 ４ 　 仪器 ４ ． １ 　 辉光放电质谱仪 中分辨率模式下分辨率可达 ３０００ ～ ４０００ ， 高分辨率模式下分辨率可达 ９０００ ～ １００００ 。 测定同位素及分辨率见表 １ 。 测定时要求同位素 １０７ Ａｇ 的谱峰强度不小于 ５×１０ ９ ｃｐｓ ， 峰形符合分辨率要求 。 １ 犌犅 ／ 犜 ３６５９０ — ２０１８ 表 １ 　 测定元素及同位素 元素同位素 质量数分辨率 元素同位素 质量数分辨率 元素同位素 质量数分辨率 Ｌｉ ７ 中分辨 Ａｓ ７５ 中分辨 Ｅｕ １５３ 中分辨 Ｂｅ ９ 中分辨 Ｓｅ ８２ 中分辨 Ｙｂ １７４ 中分辨 Ｂ １１ 中分辨 Ｂｒ ７９ 中分辨 Ｇｄ １５７ 中分辨 Ｆ １９ 中分辨 Ｒｂ ８５ 中分辨 Ｔｂ １５９ 中分辨 Ｎａ ２３ 中分辨 Ｓｒ ８８ 中分辨 Ｄｙ １６３ 中分辨 Ｍｇ ２４ 中分辨 Ｙ ８９ 中分辨 Ｈｏ １６５ 中分辨 Ａｌ ２７ 中分辨 Ｚｒ ９０ 中分辨 Ｅｒ １６６ 中分辨 Ｓｉ ２８ 中分辨 Ｎｂ ９３ 中分辨 Ｔｍ １６９ 中分辨 Ｐ ３１ 中分辨 Ｍｏ ９５ 中分辨 Ｌｕ １７５ 中分辨 Ｓ ３２ 中分辨 Ｒｕ １０１ 中分辨 Ｈｆ １７８ 中分辨 Ｃｌ ３５ 中分辨 Ｒｈ １０３ 中分辨 Ｔａ １８１ 中分辨 Ｋ ３９ 高分辨 Ｐｄ １０５ 中分辨 Ｗ １８４ 中分辨 Ｃａ ４４ 中分辨 Ｃｄ １１４ 中分辨 Ｒｅ １８５ 中分辨 Ｓｃ ４５ 中分辨 Ｉｎ １１５ 中分辨 Ｏｓ １９２ 中分辨 Ｔｉ ４８ 中分辨 Ｓｎ １１８ 中分辨 Ｉｒ １９３ 中分辨 Ｖ ５１ 中分辨 Ｓｂ １２１ 高分辨 Ｐｔ １９５ 中分辨 Ｃｒ ５２ 中分辨 Ｔｅ １２８ 中分辨 Ａｕ １９７ 中分辨 Ｍｎ ５５ 中分辨 Ｉ １２７ 中分辨 Ｈｇ １９８ 中分辨 Ｆｅ ５６ 中分辨 Ｃｓ １３３ 中分辨 Ｔｌ ２０５ 中分辨 Ｃｏ ５９ 中分辨 Ｂａ １３８ 中分辨 Ｐｂ ２０６ 中分辨 Ｎｉ ６０ 中分辨 Ｌａ １３９ 中分辨 Ｂｉ ２０９ 中分辨 Ｃｕ ６３ 中分辨 Ｃｅ １４０ 中分辨 Ｔｈ ２３２ 中分辨 Ｚｎ ６８ 中分辨 Ｐｒ １４１ 中分辨 Ｕ ２３８ 中分辨 Ｇａ ６９ 中分辨 Ｎｄ １４６ 中分辨 — — — Ｇｅ ７２ 中分辨 Ｓｍ １４７ 中分辨 — — — ４ ． ２ 　 机械加工设备 ４ ． ２ ． １ 　 粉末压片机 ， 能够将粉末样品压制成所需的的几何形状 ， 分析面应平坦光滑 。 ４ ． ２ ． ２ 　 车床 ， 能够将块状样品制备成所需的几何形状 ， 分析面应平坦光滑 。 ５ 　 试样 ５ ． １ 　 粉末样品 粉末样品选用合适的模具 ， 经过压片机压片后制成尺寸符合设备工装要求能放入辉光放电离子源 ２ 犌犅 ／ 犜 ３６５９０ — ２０１８ 内并且能够稳定地进行辉光放电 。 ５ ． ２ 　 金属样品 试样尺寸符合设备工装要求能放入辉光放电离子源内并且能够稳定地进行辉光放电 。 ６ 　 分析步骤 ６ ． １ 　 试样的预处理 将加工好的试料样品在测定前经硝酸 （ ３．２ ） 侵蚀 ５ｍｉｎ 后 ， 再用水和无水乙醇 （ ３．１ ） 清洗至洁净 ， 待干燥后备用 。 ６ ． ２ 　 相对灵敏度因子的测定 使用质量校正参比样品 （ ３．４ ） 得出各被测元素的相对灵敏度因子 。 ６ ． ３ 　 测定 ６ ． ３ ． １ 　 将试样 （ ６．１ ） 装入辉光放电离子源中 ， 根据基体谱峰强度和分辨率选择适当电流进行 １０ｍｉｎ ～ １５ｍｉｎ 的预溅射 ， 以清除表面残存的试料污染 。 ６ ． ３ ． ２ 　 将辉光放电离子源溅射参数调节到分析所需要的仪器条件 ， 进行测量 。 同一溅射点连续采集的三个测量数据的精密度满足表 ２ 所列允许相对偏差的要求时 ， 取其平均值作为测量结果 。 表 ２ 　 相对偏差 分析含量范围 狑 ／（ μ ｇ ／ ｇ ） 允许相对偏差 ＲＤ ／ ％ １ ～ ５ ２００ ＞ ５ ～ ２０ １５０ ＞ ２０ ～ ６０ １００ ＞ ６０ ～ ２００ ７０ ＞ ２００ ～ ６００ ５０ ＞ ６００ ～ ２０００ ４０ ＞ ２０００ ～ ５０００ ３０ ７ 　 分析结果的计算 被测元素的含量以质量分数 狑 犡 计 ， 以 μ ｇ ／ ｇ 表示 ， 按式 （ １ ） 计算 ： 狑 犡 ＝ ＲＳＦ 犡 Ａｇ （） · 犐 犡 · 犃 Ａｇ 犐 Ａｇ · 犃 犡 · 狑 Ａｇ ……………………（ １ ） 　　 式中 ： 狑 犡 　　 ——— 待测元素质量分数 ， 单位为微克每克 （ μ ｇ ／ ｇ ）； ＲＳＦ 犡 Ａｇ （） ——— 在辉光放电条件下测定 Ａｇ 中 犡 元素的校正系数 ； 犌犅 ／ 犜 ３６５９０ — ２０１８ 书 书 书犌犅 ／ 犜 ３６５９０ — ２０１８ 　　 犐 犡 　　 ——— 待测元素 犡 的同位素谱峰强度 ， ｃｐｓ ； 犐 Ａｇ ——— Ａｇ 元素的同位素谱峰强度 ， ｃｐｓ ； 犃 犡 ——— 表 １ 中所列待测元素 犡 的同位素丰度 ； 犃 Ａｇ ——— Ａｇ 元素的同位素丰度 ； 狑 Ａｇ ——— Ａｇ 的质量分数定义为 １．００×１０ ９ ， 单位为微克每克 （ μ ｇ ／ ｇ ）。 ８ 　 精密度 分析结果的相对偏差应不大于表 ２ 所列相对偏差 。 ９ 　 试验报告 试验报告至少应包含以下内容 ： ａ ） 　 试样 ； ｂ ） 　 使用的标准号 ； ｃ ） 　 分析结果及其表示 ； ｄ ） 　 与基本分析步骤的差异 ； ｅ ） 　 测定中观察到的异常现象 ； ｆ ） 　 试验日期 。 ８１０２ — ０９５６３ 犜 ／ 犅犌 版权专有 　 侵权必究  书号 ： １５５０６６ · １６１１１２ 定价 ： 　　 １４ ． ００ 元