ICS31.080 L53 中华人民共和国国家标准 GB/T32872—2016 空间科学照明用LED筛选规范 ScreeningspecificationsforilluminationLEDsinspacesciences 2016-08-29发布 2016-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅰ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 总则 1 ……………………………………………………………………………………………………… 4 筛选项目和程序 1 ………………………………………………………………………………………… 5 筛选方法 2 ………………………………………………………………………………………………… 5.1 外观检查 2 …………………………………………………………………………………………… 5.2 参数测量 2 …………………………………………………………………………………………… 5.3 恒定加速度 2 ………………………………………………………………………………………… 5.4 粒子碰撞噪声检测 2 ………………………………………………………………………………… 5.5 密封性检查 3 ………………………………………………………………………………………… 5.6 高温存储 3 …………………………………………………………………………………………… 5.7 温度冲击 3 …………………………………………………………………………………………… 5.8 低温启动 3 …………………………………………………………………………………………… 5.9 温度循环 4 …………………………………………………………………………………………… 5.10 老炼 4 ………………………………………………………………………………………………… 5.11 参数终测 4 …………………………………………………………………………………………… 6 参数测量和合格判定 4 …………………………………………………………………………………… 6.1 测量条件 4 …………………………………………………………………………………………… 6.2 测试参数 5 …………………………………………………………………………………………… 6.3 测试方法 5 …………………………………………………………………………………………… 6.4 合格判定 6 …………………………………………………………………………………………… 附录A(资料性附录) 空间科学照明用LED筛选统计表 7 ………………………………………………GB/T32872—2016 前 言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。 本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。 本标准主要起草人:张涛、章美敏、刘石神、顾建忠、袁士东、王晨飞。 ⅠGB/T32872—2016 空间科学照明用LED筛选规范 1 范围 本标准规定了空间科学照明用LED(LightEmittingDiode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量 和合格判定。 本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选,其他功率级别 的LED也可参照执行。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T24824—2009 普通照明用LED模块测试方法 GJB128A—1997 半导体分立器件试验方法 GJB4027 军用电子元器件破坏性物理分析方法 3 总则 3.1 被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测,合格的器件可参加筛选。筛选按规定 的项目和程序进行,完成每个项目之后,剔除不合格产品。 3.2 被筛选器件应逐个编号,并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后,应编写筛选统计表,格式参 见附录A,器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。 3.3 测试如有异常,应记录异常的发生时间和器件编号。 3.4 当筛选剔除率超过20%时,应判批次不合格。当出现功能失效时,应按照GJB4027进行失效分 析,如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。 4 筛选项目和程序 筛选按表1规定的项目和程序进行,完成每个项目之后,剔除不合格产品。 表1 筛选项目和程序 序号 筛选项目 筛选方法 1 外观检查 见5.1 2 参数测量 见5.2 3 恒定加速度 见5.3 4 粒子碰撞噪声检测(PIND) 见5.4 5 密封性检查 见5.5 1GB/T32872—2016 表1(续) 序号 筛选项目 筛选方法 6 高温存储 见5.6 7 温度冲击 见5.7 8 低温启动 见5.8 9 温度循环 见5.9 10 老炼 见5.10 11 外观终检 见5.1 12 参数终测 见5.11 5 筛选方法 5.1 外观检查 常温下,用10倍放大镜检查器件的外观质量,不得存在下列缺陷: a) 管壳和管脚锈蚀,根部有明显硬伤; b) 透镜破碎、有裂纹,或有气泡、异物; c) 标识不清; d) 变形、污损、划痕等外观缺陷。 5.2 参数测量 按6.1、6.2和6.3进行参数测量,所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。 5.3 恒定加速度 5.3.1 筛选条件 筛选条件如下: a) 恒定加速度:196000m/s2; b) 实验方向:Y1向(加速力方向平行于器件主轴,主基座的正方向); c) 持续时间:1min。 5.3.2 筛选方法 将被筛选器件(不通电)安装于加速度试验架上,筛选方法按照GJB128A—1997方法2006的规定。 试验结束后,按6.4.2进行合格判定。 5.4 粒子碰撞噪声检测 5.4.1 筛选条件 在40Hz~250Hz下,峰值加速度为196m/s2。 5.4.2 筛选方法 按GJB128A—19972052条件A进行,适用于空封器件,无空腔的器件可免做。 2GB/T32872—2016 试验结束剔除不合格器件后,按6.4.2进行合格判定。 5.5 密封性检查 适用于空封器件,无空腔的器件可免做。 内腔体积不大于1cm3用细检漏法,按GJB128A—19971071细检漏条件H1或H2。内腔体积不 大于0.3cm3,最大泄漏率5×10-3Pa·cm3/s,内腔体积大于0.3cm3,最大泄漏率5×10-2Pa·cm3/s。 内腔体积大于1cm3用粗检漏法,按GJB128A—19971071粗检漏筛选条件C。 试验结束剔除不合格器后,按6.4.2进行合格判定。 5.6 高温存储 5.6.1 筛选条件 储存温度110℃±2℃,保温时间48h。 5.6.2 筛选方法 将被筛选器件(不通电)放入温度为110℃±2℃的试验箱中,存储48h。 试验结束后,按6.4.2进行合格判定。 5.7 温度冲击 5.7.1 筛选条件 筛选条件如下: a) 气压:常压; b) 温度:低温-40℃±2℃,高温85℃±2℃; c) 温浸时间:30min; d) 转换速率:不小于10℃/min; e) 循环次数:5次。 5.7.2 筛选方法 试验过程中器件不通电。 试验结束后,按6.4.2进行合格判定。 5.8 低温启动 5.8.1 筛选条件 筛选条件如下: a) 气压:常压; b) 温度:-40℃±2℃或产品规范或技术协议规定的最低极限工作温度; c) 冷浸时间:大于15min; d) 冷启动次数:10次; e) 冷启动每次间隔时间为:不小于5min。 5.8.2 筛选方法 将处于不通电状态的被筛选器件放入试验箱中,至少15min。然后给每个器件进行低温启动(通 3GB/T32872—2016 电点亮,持续30s),启动次数为10次,每次间隔时间为5min,启动时器件应能正常点亮。 试验结束剔除不合格器后,按6.4.2进行合格判定。 5.9 温度循环 5.9.1 筛选条件 筛选条件如下: a) 高温温度:65℃±2℃; b) 低温温度:-40℃±2℃; c) 高温保持时间:2h; d) 低温保持时间:2h; e) 变温速率:不小于5℃/min; f) 循环次数:5次。 5.9.2 筛选方法 试验过程中器件通电工作,通电电流为IF=Iopm(Iopm为LED实际使用中的额定工作电流)。 试验结束后,按6.4.2进行合格判定。 5.10 老炼 5.10.1 筛选条件 筛选条件如下: a) 温度:25℃±5℃; b) 老炼时间:240h; c) 恒流驱动电流:IF=Iopm。 5.10.2 筛选方法 器件通电工作,采用恒流驱动,使每个器件为IF=Iopm,老炼时间为240h。 在筛选过程中应监测前向电压。 试验结束后,按6.4.2进行合格判定。 5.11 参数终测 所有试验完成后,按6.1、6.2和6.3进行参数终测,所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。 6 参数测量和合格判定 6.1 测量条件 参数测量应在下列环境进行: a) 温度:25℃±1℃; b) 相对湿度:30%~65%; c) 气压:86kPa~106