书 书 书犐犆犛 １７ ． ０４０ ． ３０ 犑 ４２ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A 犌犅 ／ 犜 ２２０９３ — ２０１８ /G21 /G22 ＧＢ ／ Ｔ２２０９３ — ２００８ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G28 /G29 犐狀狋犲狉狀犪犾犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔 ２０１８  ０５  １４ /G2A /G2B ２０１８  １２  ０１ /G2C /G2D /G27 /G28 /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G21 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A /G33 /G2F /G30 /G34 /G35 /G36 /G2A /G2B书 书 书前 　　 言 　　 本标准按照 ＧＢ ／ Ｔ１．１ — ２００９ 给出的规则起草 。 本标准代替 ＧＢ ／ Ｔ２２０９３ — ２００８ 《 电子数显内径千分尺 》。 本标准与 ＧＢ ／ Ｔ２２０９３ — ２００８ 相比 ， 除编辑性修改外 ， 主要技术变化如下 ： ——— 扩大电子数显内径千分尺的测量范围到 １０００ｍｍ （ 见第 １ 章 ， ２００８ 年版的第 １ 章 ）； ——— 修改了电子数显数显装置的定义 （ 见 ３．１ ， ２００８ 年版的 ３．１ ）； ——— 增加了电子数显内径千分尺的定义 （ 见 ３．２ ）； ——— 增加了测微螺杆螺距为 ２ｍｍ 的电子数显内径千分尺 （ 见 ４．２．１ ）； ——— 增加了对电子数显内径千分尺测量力范围的规定 （ 见 ５．５ ）； ——— 修改了示值最大允许误差的要求和规定值 （ 见 ５．１３ 和表 ２ ， ２００８ 年版的 ５．１３ 和表 ２ ）； ——— 增加了对量程大于 ２５ｍｍ 的电子数显内径千分尺的示值最大允许误差的规定 （ 见 ５．１３．１ ）； ——— 增加了 Ａ 型电子数显内径千分尺锁紧变化的检验方法 （ 见 ６．１ ）； ——— 修改了分度误差检验方法中注 ２ （ 见 ６．３．１ ， ２００８ 年版的 ６．２．１ ）； ——— 修改了示值误差的检验方法 （ 见 ６．４ ， ２００８ 年版的 ６．３ ）； ——— 增加了示值误差检验方法的 Ｂ 组尺寸系列 （ 见 ６．４ 和表 ３ ）； ——— 增加了量程等于 ５０ｍｍ 的示值误差检验尺寸系列 （ 见 ６．４ 和表 ３ ）； ——— 把附录 Ｂ 的部分内容移到正文里 （ 见 ５．１３ 和表 ２ ， ２００８ 年版的附录 Ｂ ）； ——— 删除了对角度传感器等分数的规定 （ 见 ２００８ 年版的 ５．１２．３ ）。 本标准由中国机械工业联合会提出 。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会 （ ＳＡＣ ／ ＴＣ１３２ ） 归口 。 本标准负责起草单位 ： 苏州麦克龙测量技术有限公司 。 本标准参加起草单位 ： 成都工具研究所有限公司 、 桂林量具刃具有限责任公司 、 桂林广陆数字测控有限公司 、 广西壮族自治区计量检测研究院 、 辽宁省计量科学研究院 。 本标准主要起草人 ： 黄晓宾 、 王荣华 、 许刚 、 赵伟荣 、 闫列雪 、 阳明珠 、 杨斌 。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 ： ——— ＧＢ ／ Ｔ２２０９３ — ２００８ 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 ２２０９３ — ２０１８ 电子数显内径千分尺 １ 　 范围 本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义 /G21 型式与基本参数 /G21 要求 /G21 检验方法 、 试验方法 、 标志与包装 。 本标准适用于分辨力为 ０．００１ｍｍ ， 量程小于或等于 １００ｍｍ ， 测量范围上限至 １０００ｍｍ 的电子数显内径千分尺 。 测量范围 １０００ｍｍ ～ ６０００ｍｍ 的 Ａ 型电子数显内径千分尺参见附录 Ａ 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。 凡是注日期的引用文件 ， 仅注日期的版本适用于本文件 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本 （ 包括所有的修改单 ） 适用于本文件 。 ＧＢ ／ Ｔ１２１６ — ２０１８ 　 外径千分尺 ＧＢ ／ Ｔ２４２３．３ — ２０１６ 　 环境试验 　 第 ２ 部分 ： 试验方法 　 试验 Ｃａｂ ： 恒定湿热试验 ＧＢ ／ Ｔ２４２３．２２ — ２０１２ 　 环境试验 　 第 ２ 部分 ： 试验方法 　 试验 Ｎ ： 温度变化 ＧＢ ／ Ｔ４２０８ — ２０１７ 　 外壳防护等级 （ ＩＰ 代码 ） ＧＢ ／ Ｔ１８００．２ — ２００９ 　 产品几何技术规范 （ ＧＰＳ ） 　 极限与配合 　 第 ２ 部分 ： 标准公差等级和孔 、 轴极限偏差表 ＧＢ ／ Ｔ１７１６３ — ２００８ 　 几何量测量器具术语 　 基本术语 ＧＢ ／ Ｔ１７１６４ — ２００８ 　 几何量测量器具术语 　 产品术语 ＧＢ ／ Ｔ１７６２６．２ — ２００６ 　 电磁兼容 　 试验和测量技术 　 静电放电抗扰度试验 ＧＢ ／ Ｔ１７６２６．３ — ２０１６ 　 电磁兼容 　 试验和测量技术 　 射频电磁场辐射抗扰度试验 ＧＢ ／ Ｔ２４６３４ — ２００９ 　 产品几何技术规范 （ ＧＰＳ ） 　 ＧＰＳ 测量设备通用概念和要求 ３ 　 术语和定义 ＧＢ ／ Ｔ１７１６３ — ２００８ 、 ＧＢ ／ Ｔ１７１６４ — ２００８ 和 ＧＢ ／ Ｔ２４６３４ — ２００９ 界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。 ３ ． １ 电子数显千分尺数显装置 　 犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犻狀犱犻犮犪狋犻狀犵犱犲狏犻犮犲狊犳狅狉犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉 利用传感器 、 电子和数字显示技术 ， 计算并显示电子数显内径千分尺的测微螺杆位移的装置 。 注 ： 以下简称 “ 电子数显装置 ”。 ３ ． ２ 电子数显内径千分尺 　 犻狀狋犲狉狀犪犾犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔 利用电子数显装置 ， 对两测量面分隔的内尺寸或三测量面接触的内孔进行测量读数的测量器具 。 ４ 　 型式与基本参数 ４ ． １ 　 型式 电子数显内径千分尺的型式见图 １ 和图 ２ 所示 。 图示仅供图解说明 ， 不表示详细结构 。 １ 犌犅 ／ 犜 ２２０９３ — ２０１８ 犪 ） 　 犃 型 ： 电子数显 ２ 点内径千分尺 （ 测微螺杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴 ） 犫 ） 　 犅 型 ： 电子数显 ２ 点内径千分尺 （ 测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴 ， 与测量面的位移平行 ） 图 １ 　 电子数显 ２ 点内径千分尺型式示意图 ２ 犌犅 ／ 犜 ２２０９３ — ２０１８ 犮 ） 　 犆 型 ： 电子数显 ２ 点内径千分尺 （ 测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴 ， 与测量面的位移垂直 ） 图 １ （ 续 ） 犪 ） 　 犇 型 ： 电子数显 ３ 点内径千分尺 （ 测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴 ， 与测量面的位移垂直 ） 犫 ） 　 犈 型 ： 电子数显 ３ 点内径千分尺 （ 测微螺杆轴线与测量面的位移同轴 ， 与角度传感器的轴线垂直 ） 图 ２ 　 电子数显 ３ 点内径千分尺型式示意图 ４ ． ２ 　 基本参数 ４ ． ２ ． １ 　 电子数显内径千分尺测微螺杆的螺距宜为 ０．５ｍｍ 、 １ｍｍ 或 ２ｍｍ 。 ４ ． ２ ． ２ 　 Ａ 型 、 Ｂ 型电子数显内径千分尺的量程宜为 ２５ｍｍ ， 测量范围下限宜为 ５ｍｍ 或 ２５ｍｍ 的整数倍 。 ４ ． ２ ． ３ 　 Ｃ 型 、 Ｄ 型 、 Ｅ 型电子数显内径千分尺的测量范围的下限宜为整数 。 ５ 　 要求 ５ ． １ 　 外观 ５ ． １ ． １ 　 电子数显内径千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕 、 划伤 、 碰伤 、 锈蚀 、 毛刺等缺陷 。 ３ 犌犅 ／ 犜 ２２０９３ — ２０１８ ５ ． １ ． ２ 　 电子数显内径千分尺表面的镀 、 涂层不得有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷 。 ５ ． １ ． ３ 　 电子数显装置的数字显示屏应透明 、 清洁 ， 无划痕 、 气泡等影响读数的缺陷 。 ５ ． ２ 　 材料 测微螺杆应选择合金工具钢 、 不锈钢或其他类似性能的材料制造 ； 测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料 。 ５ ． ３ 　 相互作用 ５ ． ３ ． １ 　 测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合 ， 配合良好 ， 不得出现卡滞和明显窜动 。 ５ ． ３ ． ２ 　 Ｄ 型 、 Ｅ 型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好 ， 且移动自如 ， 不得出现卡滞 ， 沿测量面轴线方向不得有明显摆动 。 ５ ． ４ 　 锁紧装置 Ａ 型电子数显内径千分尺应具有锁紧装置 。 锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆 。 锁紧前 、 后 ， 两测量面间的距离变化不应大于 ２ μ ｍ 。 ５ ． ５ 　 测力装置 Ｂ 型 、 Ｃ 型 、 Ｄ 型 、 Ｅ 型电子数显内径千分尺应具有测力装置 ， 通过测力装置作用到测量面的测量力应一致 。 Ｂ 型 、 Ｃ 型和测量范围 犾 ≤ １２ｍｍ 的 Ｄ 型 ： 测量力宜为 ４Ｎ ～ １０Ｎ ， 测量力变化不应大于 ２Ｎ 。 测量范围 １２ｍｍ ＜ 犾 ≤ １００ｍｍ 的 Ｄ 型和 Ｅ 型 ： 测量力宜为 １０Ｎ ～ ３５Ｎ ， 测量力变化不应大于 ３０％ 。 测量范围 犾 ＞ １００ｍｍ 的 Ｄ 型和 Ｅ 型 ：