书 书 书犐犆犛 ７７ ． ０４０ ． ３０ 犎 １０ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A 犌犅 ／ 犜 １６５９７ — ２０１９ /G21 /G22 ＧＢ ／ Ｔ１６５９７ — １９９６ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G28 犡 /G29 /G2A /G2B /G2C /G2C /G2D /G28 /G2E /G2F 犃狀犪犾狔狋犻犮犪犾犿犲狋犺狅犱狊狅犳犿犲狋犪犾犾狌狉犵犻犮犪犾狆狉狅犱狌犮狋狊 — 犌犲狀犲狉犪犾狉狌犾犲犳狅狉犡狉犪狔犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉犻犮犿犲狋犺狅犱狊 ２０１９  ０６  ０４ /G30 /G31 ２０２０  ０５  ０１ /G32 /G33 /G27 /G28 /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G21 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A /G33 /G2F /G30 /G34 /G35 /G36 /G30 /G31书 书 书前 　　 言 　　 本标准按照 ＧＢ ／ Ｔ１．１ — ２００９ 给出的规则起草 。 本标准代替 ＧＢ ／ Ｔ１６５９７ — １９９６ 《 冶金产品分析方法 　 Ｘ 射线荧光光谱法通则 》。 与 ＧＢ ／ Ｔ１６５９７ — １９９６ 相比主要技术变化如下 ： ——— 修改了标准的适用范围 （ 见第 １ 章 ， １９９６ 年版的第 １ 章 ）； ——— 增加了 “ 波长色散 ”（ 见 ３．１３ ）、“ 能量色散 ”（ 见 ３．１４ ）、“ 分光晶体 ”（ 见 ３．１５ ）、“ 顺序式 Ｘ 射线荧光光谱仪 ”（ 见 ３．１６ ）、“ Ｘ 射线管 ”（ 见 ３．１７ ）、“ 准直器 ”（ 见 ３．１８ ）、“ 闪烁计数器 ”（ 见 ３．１９ ）、 “ θ 角 ”（ 见 ３．２０ ）、“ ２ θ 角 ”（ 见 ３．２１ ）、“ 参比谱线 ”（ 见 ３．２２ ）、“ 特征 Ｘ 射线谱 ”（ 见 ３．２３ ）、“ 俄歇效应 ”（ 见 ３．２４ ）、“ 荧光产额 ”（ 见 ３．２５ ） 的术语和定义 ； ——— 增加了 “ 能量色散 Ｘ 射线荧光光谱分析基本原理 ”（ 见 ４．２ ）； ——— 增加了 “ 仪器的组成 ” 中 “ 能量色散 Ｘ 射线荧光光谱分析仪 ”（ 见 ５．１．２ ）； ——— 增加了 “ Ｘ 光管构造和基本要求 ”（ 见 ５．１．４ ）； ——— 增加了 “ Ｘ 射线分析靶材 ”（ 见 ５．１．５ ）； ——— 增加了 “ 能量色散 Ｘ 射线荧光分析试料室 ”（ 见 ５．１．６．２ ）； ——— 增加了 “ 能量色散 Ｘ 射线荧光分析探测器 ”（ 见 ５．２．２．２ ）； ——— 增加了 “ 试剂和材料 ”（ 见第 ６ 章 ）； ——— 增加了 “ 试料的制备方法 ”（ 见第 ７ 章 ）； ——— 增加了 “ 定性分析 ”（ 见第 ８ 章 ）； ——— 增加了 “ 半定量分析 ”（ 见第 ９ 章 ）； ——— 增加了 “ 外标法 ”（ 见 １０．２．４ ）； ——— 增加了 “ 数学方法 ”（ 见 １０．２．５ ）； ——— 增加了 “ 定量分析的影响因素和消除方法 ”（ 见 １０．３ ）； ——— 增加了 “ 常用分析软件 ”（ 见第 １１ 章 ）； ——— 增加了 “ 安全注意事项 ”（ 见第 １２ 章 ）； ——— 增加了 “ 测定结果的记录和表述 ”（ 见第 １３ 章 ）。 本标准由中国有色金属工业协会提出 。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会 （ ＳＡＣ ／ ＴＣ２４３ ） 归口 。 本标准起草单位 ： 金堆城钼业股份有限公司 、 国合通用测试评价认证股份公司 、 国标 （ 北京 ） 检验认证有限公司 、 西北有色金属研究院 。 本标准主要起草人 ： 谢明明 、 王郭亮 、 苏雄 、 张东雯 、 邱少华 、 贺鑫 、 于磊 、 周恺 、 柴玉青 、 马志军 、 王丽丽 、 张敏 、 吴伟 。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 ： ——— ＧＢ ／ Ｔ１６５９７ — １９９６ 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 １６５９７ — ２０１９ 冶金产品分析方法 犡 射线荧光光谱法通则 １ 　 范围 本标准规定了用 Ｘ 射线荧光光谱法进行元素定量分析的一般要求 ， 包括术语和定义 、 基本原理 、 仪 器 、 试剂和材料 、 试料的制备方法 、 定量分析 、 安全注意事项和测定结果的记录和表述 。 本标准适用于波长色散型和能量色散型 Ｘ 射线荧光光谱仪测量各种材料中的元素成分和元素含 量 ， 可用于除 Ｈ 、 Ｈｅ 、 Ｌｉ 外 ， 周期表中从 ４ Ｂｅ 到 ９２ Ｕ 之间的所有元素的常量 、 微量的定性和定量分析 ， 供以 Ｘ 射线管作激发源的波长色散和能量色散 Ｘ 射线荧光光谱仪使用 。 分析元素的质量分数范围 ： ０．０００１％ ～ １００％ 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。 凡是注日期的引用文件 ， 仅注日期的版本适用于本文 件 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本 （ 包括所有的修改单 ） 适用于本文件 。 ＧＢ ／ Ｔ６３７９．２ 　 测量方法与结果的准确度 （ 正确度与精密度 ） 　 第 ２ 部分 ： 确定标准测量方法重复 性与再现性的基本方法 ＪＪＧ８１０ 　 波长色散 Ｘ 射线荧光光谱仪 ３ 　 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件 。 ３ ． １ 犡 射线强度 　 犡狉犪狔犻狀狋犲狀狊犻狋狔 Ｘ 射线荧光光谱分析中的强度为单位时间内的计数 ， 通常用 犐 表示 。 ３ ． ２ 能量分辨率 　 犲狀犲狉犵狔狉犲狊狅犾狌狋犻狅狀 脉冲高度分布的半高宽与平均脉冲高度之比 ， 用百分数表示 。 ３ ． ３ 背景 　 犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱 叠加在分析线上的连续谱 ， 主要来自试料对入射辐射的散射 。 ３ ． ４ 分析线 　 犪狀犪犾狔狋犻犮犪犾犾犻狀犲 需要对其强度进行测量并据此判定被分析元素含量的特征谱线 。 注 ： Ｘ 射线荧光光谱分析中一般选择强度大 、 干扰少 、 背景低的特征谱线作为分析线 。 ３ ． ５ 干扰线 　 犻狀狋犲狉犳犲狉犲狀犮犲犾犻狀犲 与分析线重叠或部分重叠 ， 从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线 。 １ 犌犅 ／ 犜 １６５９７ — ２０１９ ３ ． ６ 检出限 　 犾犻犿犻狋狅犳犱犲狋犲犮狋犻狅狀 在一定置信水平下能检出的最低含量 ， 通常用式 （ １ ） 表示 ： ＤＬ ＝ ３ 犿 犚 ｂ 犜 ｂ 槡 …………………………（ １ ） 　　 式中 ： 犿 ——— 单位浓度的每秒计数 ； 犚 ｂ ——— 背景的每秒计数 ； 犜 ｂ ——— 背景计数时间 （ 总分析时间的一半 ）。 ３ ． ７ 基体效应 　 犿犪狋狉犻狓犲犳犳犲犮狋 试料的化学组成和物理  化学状态对分析元素荧光 Ｘ 射线强度的影响 ， 主要表现为吸收  增强效应 、 颗粒度效应 、 表面光洁度效应 、 化学状态效应等 。 ３ ． ８ 经验系数法 　 犲犿狆犻狉犻犮犪犾犮狅犲犳犳犻犮犻犲狀狋犿犲狋犺狅犱 用经验的数学校正公式 ， 依靠一系列标准试料以实验方法确定某种共存元素对分析线的吸收  增强影响系数和重叠干扰系数而加以校正的方法 。 ３ ． ９ 基本参数法 　 犳狌狀犱犪犿犲狀狋犪犾狆犪狉犪犿犲狋犲狉犿犲狋犺狅犱 用原级 Ｘ 射线的光谱分布 、 质量吸收系数 、 荧光产额 、 吸收突变比 、 仪器几何因子等基本参数计算出纯元素分析线的理论强度 ， 将测量强度代入基本参数法数学模型中 ， 用迭代法计算至达到所要求的精度 ， 得到分析元素含量的理论计算方法 。 ３ ． １０ 校准曲线 　 犮犪犾犻犫狉犪狋犻狅狀犮狌狉狏犲 通过测量一套与试料化学组成 、 物理化学状态相似的标准系列的 Ｘ 射线强度 ， 将其与相应的元素含量用最小二乘法拟合成的曲线 ， 用以计算在相同的仪器条件下所测未知试料中分析元素的含量 。 注 ： 也称工作曲线 。 ３ ． １１ 标准试料 　 狋犲狊狋狆狅狉狋犻狅狀犳狅狉犮犪犾犻犫狉犪狋犻狅狀犮狌狉狏犲 用于绘制校准曲线或进行校正的一套已知组成和含量的试料 。 ３ ． １２ 标准化试料 　 狋犲狊狋狆狅狉狋犻狅狀犳狅狉狊狋犪狀犱犪狉犱犻狕犪狋犻狅狀狅犳犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋 用于校正仪器漂移的试料 。 其元素分析线有适当的强度并可长时间保持稳定 。 ３ ． １３ 波长色散 　 狑犪狏犲犾犲狀犵狋犺犱犻狊狆犲狉狊犻狅狀 Ｘ 射线经分光晶体衍射而发生的空间色散 。 注 ： 也称晶体色散 。 ３ ． １４ 能量色散 　 犲狀犲狉犵狔犱犻狊狆犲狉狊犻狅狀 分析样品被激发光源激发发出的各种能量特征 Ｘ 射线 。 ３ ． １５ 分光晶体 　 犪狀犪犾狔狕犻狀犵犮狉狔狊狋犪犾 使二次 （ 荧光 ） Ｘ 射线束衍射并色散成空间波谱的晶体分光器或单色器 。 ２ 犌犅 ／ 犜 １６５９７ — ２０１９ ３ ． １６ 顺序式 犡 射线荧光光谱仪 　 狊犲狇狌犲狀狋犻犪犾犡狉犪狔犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋犲狉 一种单通道扫描型 、 晶体色散型自动化的 Ｘ 射线荧光光谱仪 。 ３ ． １７ 犡 射线管 　 犡狉犪狔狋狌犫犲 工作在高电压下的真空二极管 ， 密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳中 ， 包含有两个电极 。 用于发射初级 Ｘ 射线 。 注 ： 又称 Ｘ 光管 。 ３ ． １８ 准直器 　 犮狅犾犾犻犿犪狋狅狉 截取发