ICS31.140 L21 中华人民共和国国家标准 GB/T11297.12—2012 代替GB/T11297.12—1989 光 学晶体消光比的测量方法 Testmethodforextinctionratioofopticalcrystal 2012-12-31发布 2013-06-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布前 言 本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T11297.12—1989《电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方 法》。 本部分与GB/T11297.12—1989相比,主要有如下变动: ———对原部分的名称进行了修改。原部分名称“电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比 的测量方法”改为“光学晶体消光比的测量方法”。本部分还将标准适用范围扩展到采用其他 波长测量的单轴和等轴光学晶体; ———对原部分测量系统消光比指标进行了修改,原部分测量系统指标为100000∶1,需配备输出功 率较高(P≥15mW)的氦氖激光器。现部分测量系统指标修订为50000∶1,采用输出功率大 于2mW的氦氖激光器; ———原部分消光比指标表示方法只有×××××∶1。本部分增加了分贝表示方法; ———本部分增加了将被测晶体置于正交偏光系统中时透射光强取最大值; ———本部分增加了测量系统应采用必要的光屏蔽措施的要求; ———本部分增加了测量环境条件要求; ———本部分增加了被测晶体两通光端面的粗糙度要求; ———本部分增加了测试系统的通光孔径为5mm的规定,供、需双方还可根据样品尺寸协商确定通 光孔径的大小; ———本部分增加了光束直径为被测样品直径的90%的规定,供、需双方还可根据样品尺寸协商确 定光束直径的大小。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由中国电子技术标准化研究所归口。 本部分由中国电子科技集团公司第二十六研究所负责起草。 本部分主要起草人:谢克诚、金中洪、杨洁、张晓梅。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: ———GB/T11297.12—1989。 ⅠGB/T11297.12—2012 光学晶体消光比的测量方法 1 范围 GB/T11297的本部分规定了采用波长为632.8nm的光波沿单轴光学晶体光轴方向消光比的测 量方法。 本部分适用于采用波长为632.8nm、1064nm、830nm、514nm、488nm、458nm的光波对单轴和 等轴光学晶体的消光比测量。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T11293—1989固体激光材料名词术语 3 术语和定义 GB/T11293—1989界定的术语和定义适用于本文件。 4 测量原理 波长为632.8nm的一束光波沿被测晶体光轴方向透过一个置于正交偏光系统中的被测晶体时, 以光轴为轴旋转晶体,测量出透射光强最大值,然后转动检偏器成平行偏光系统,测量出透射光强值,通 过式(1)计算消光比(EX): EX=I‖/I⊥…………………………………………(1) 式中: EX———被测晶体的消光比; I‖———平行偏光系统中透射光强值,单位为毫伏(mV); I⊥———正交偏光系统中透射光强最大值,单位为毫伏(mV)。 也可用式(2)表示: EX′=10×lg(I‖/I⊥)…………………………………(2) 式中消光比EX′的单位为分贝(dB)。 5 测量系统 消光比测量系统示意图如图1所示,采用波长为632.8nm光波的氦氖激光器。采用其他波长的光 波测量时,只需更换相应波长的激光器和光功率计。 1GB/T11297.12—2012 说明: 1———氦氖激光器; 2———扩束准直器; 3———可调光栏; 4———起偏器; 5———被测晶体; 6———检偏器; 7———光功率计。 图1 消光比测量系统示意图 6 要求 6.1 测量环境条件要求 测量应在以下环境条件下进行: a) 温度范围:22℃~28℃,温度波动:±1℃; b) 相对湿度:45%~70%; c) 气压:86kPa~106kPa; d) 测量系统应处于无振动、无空气流动的环境中。 6.2 测量系统要求 测量系统要求如下: a) 氦氖激光光源:单横模,输出功率>2mW,光源功率的波动应≤1%; b) 扩束后的光源光束发散角应≤3mrad; c) 光功率计:测量精度为1nW,或其他同等精度的仪器; d) 测量系统的通光孔径应为5mm;供、需双方也可根据被测晶体通光面尺寸协商通光孔径的 大小; e) 测量系统应采用光屏蔽措施; f) 测量系统的消光比应≥50000:1或者≥47dB。 6.3 被测晶体的加工要求 被测晶体的加工技术要求如下: a) 定向偏差应<5′; b) 端面垂直度(端面对光轴)的偏差应<5′; c) 两端面(平面/平面)的不平行度应<30″; d) 两端面的平面度应<λ/4(λ=632.8nm); e) 两端面的粗糙度应<5nm。 7 测量步骤 7.1 测量系统准备 测量系统准备要求如下: 2GB/T11297.12—2012 a) 开启系统电源,使氦氖激光光源输出功率的波动满足6.2a); b) 将光栏调成直径5mm的光束,光束发散角应满足6.2b); c) 校准系统消光比,使系统消光比满足6.2f)。 7.2 样品测试 样品测试的要求如下: a) 将被测晶体置于V形槽上,应避免任何引起晶体受应力的因素; b) 调整光栏,使光束直径为被测样品直径的90%;供、需双方也可根据被测晶体通光面尺寸协商 光束直径的大小; c) 调节各光学元件,使之与测量光束同轴;调节V形槽,使晶体光轴与光束同轴; d) 测量前应使被测晶体与环境温度相同; e) 以光轴为轴旋转晶体,测出晶体在正交偏光系统中透射光强的最大值I⊥; f) 转动检偏器,使测量系统成平行偏光系统,测量透射光强值I‖。 7.3 计算 将透射光强I‖和I⊥代入式(1)或式(2),计算出被测晶体的消光比。 8 测量准确度 本方法的测量准确度为±5%。 9 测量报告 测量报告应包括下列内容: a) 送检单位; b) 检测单位; c) 本部分编号; d) 被测晶体编号和尺寸; e) 测量环境温度和湿度; f) 测量光束直径; g) 测量系统消光比; h) 被测晶体消光比; i) 测试者姓名、测试日期; j) 其他。GB/T11297.12—2012 2102—21. 79211T/BG 中华人民共和国 国家标准 光学晶体消光比的测量方法 GB/T11297.12—2012 * 中国标准出版社出版发行 北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013) 北京市西城区三里河北街16号(100045) 网址:www.gb168.cn 服务热线:010-68522006 2013年4月第一版 * 书号:155066·1-47044 版权专有 侵权必究