书 书 书犐犆犛 ７７ ． １５０ 犎 ６６ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A 犌犅 ／ 犜 １１０７１ — ２０１８ /G21 /G22 ＧＢ ／ Ｔ１１０７１ — ２００６ /G21 　 /G22 　 /G23 　 /G24 犣狅狀犲狉犲犳犻狀犲犱犵犲狉犿犪狀犻狌犿犻狀犵狅狋 ２０１８  １２  ２８ /G25 /G26 ２０１９  ０７  ０１ /G27 /G28 /G27 /G28 /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G21 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A /G33 /G2F /G30 /G34 /G35 /G36 /G25 /G26书 书 书前 　　 言 　　 本标准按照 ＧＢ ／ Ｔ１．１ — ２００９ 给出的规则起草 。 本标准代替 ＧＢ ／ Ｔ１１０７１ — ２００６ 《 区熔锗锭 》， 与 ＧＢ ／ Ｔ１１０７１ — ２００６ 相比 ， 除编辑性修改外主要技术变化如下 ： ——— 范围进一步明确为 “ 本标准适用于以还原锗锭及锗单晶返料为原料 ， 经区熔提纯工艺制备得到的区熔锗锭 。 ＺＧｅ０ 区熔锗锭主要用于制备半导体及高纯锗探测器用的高纯锗单晶 ； ＺＧｅ１ 区熔锗锭主要用于制备红外光学用的锗单晶 、 太阳能电池用的锗单晶及各类锗  铬 、 锗  硅合金等 ”（ 见第 １ 章 ）。 ——— 增加了区熔锗锭在 （ ２３±０．５ ） ℃ 下电阻率的要求 （ 见 ３．２ ）。 ———“ 同一根锗锭的最大与最小截面面积之差不大于平均截面面积的 １５％ ” 修改为 “ 同一根区熔锗锭的头尾两端的高度差不大于 ４ｍｍ ”（ 见 ３．３ ， ２００６ 年版的 ３．３ ）。 ———“ 锭长 １００ｍｍ ～ ５００ｍｍ ” 修订为 “ 长度应不小于 １００ｍｍ ”（ 见 ３．３ ， ２００６ 年版的 ３．３ ）。 ——— 增加了区熔锗锭的表面应无孔洞的要求 （ 见 ３．４ ， ２００６ 版的 ３．４ ）。 本标准由中国有色金属工业协会提出 。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会 （ ＳＡＣ ／ ＴＣ２４３ ） 归口 。 本标准起草单位 ： 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 、 有研光电新材料有限责任公司 、 中锗科技有限公司 、 衡阳恒荣高纯半导体材料有限公司 、 广东先导稀材股份有限公司 、 锡林郭勒通力锗业有限责任公司 、 云南东昌金属加工有限公司 。 本标准主要起草人 ： 包文东 、 普世坤 、 李贺成 、 冯德伸 、 惠峰 、 范德胜 、 朱知国 、 李正美 、 董汝昆 、 朱刘 、 尹士平 、 王晓华 。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 ： ——— ＧＢ ／ Ｔ１１０７１ — １９８９ 、 ＧＢ ／ Ｔ１１０７１ — ２００６ 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 １１０７１ — ２０１８ 区 　 熔 　 锗 　 锭 １ 　 范围 本标准规定了区熔锗锭的要求 、 试验方法 、 检验规则 、 标志 、 包装 、 运输 、 贮存 、 质量证明书和订货单 （ 或合同 ） 内容 。 本标准适用于以还原锗锭及锗单晶返料为原料 ， 经区熔提纯工艺制备得到的区熔锗锭 。 ＺＧｅ０ 区熔锗锭主要用于制备半导体及高纯锗探测器用的高纯锗单晶 ； ＺＧｅ１ 区熔锗锭主要用于制备红外光学和太阳能电池用的锗单晶及各类锗  铬 、 锗  硅合金等 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。 凡是注日期的引用文件 ， 仅注日期的版本适用于本文件 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本 （ 包括所有的修改单 ） 适用于本文件 。 ＧＢ ／ Ｔ４３２６ 　 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 ＹＳ ／ Ｔ６０２ 　 区熔锗锭电阻率测试方法 　 两探针法 ３ 　 要求 ３ ． １ 　 产品分类 区熔锗锭按电学性能分为两个牌号 ： ＺＧｅ０ 、 ＺＧｅ１ 。 ＺＧｅ   表示区熔锗锭 　□  阿拉伯数字 ，  表示产品等级 ３ ． ２ 　 电学性能 区熔锗锭的电学性能应符合表 １ 的规定 。 电阻率可选择采用在 ２０℃ 或 ２３℃ 的条件下进行测试 ， 并满足表 １ 的规定 。 表 １ 　 电学性能 牌号电阻率 ／（ Ω · ｃｍ ） 检测单晶的参数 （ ７７Ｋ ） （ ２０±０．５ ） ℃ （ ２３±０．５ ） ℃ 载流子浓度 ｃｍ －３ 载流子迁移率 ｃｍ －３ ／（ Ｖ · Ｓ ） ＺＧｅ０ ≥ ５０ ≥ ４７ ≤ １．５×１０ １２ ≥ ３．７×１０ ４ ＺＧｅ１ ≥ ５０ ≥ ４７ — — ３ ． ３ 　 尺寸外形 区熔锗锭的横截面应为梯形 ， 同一根区熔锗锭的头尾两端的高度差应不大于 ４ｍｍ 。 区熔锗锭的 １ 犌犅 ／ 犜 １１０７１ — ２０１８ 上宽应不小于 ２６ｍｍ ， 下宽应不小于 ２１ｍｍ ， 高度应不小于 ２３ｍｍ ， 长度应不小于 １００ｍｍ 。 ３ ． ４ 　 表面质量 区熔锗锭的表面应呈银灰色光泽 ， 无氧化膜 、 裂纹 、 孔洞和浮渣 。 ３ ． ５ 　 其他 需方如对产品电学性能和尺寸外形等有其他特殊要求 ， 可由供需双方另行商定 。 ４ 　 试验方法 ４ ． １ 　 区熔锗锭的电阻率检验按 ＹＳ ／ Ｔ６０２ 的规定沿区熔锗锭底面的中心线纵向进行检验 ， 点间距不大 于 ３０ｍｍ 。 ４ ． ２ 　 锗单晶的载流子浓度和载流子迁移率的检验按 ＧＢ ／ Ｔ４３２６ 的规定进行 ， 测试样品从头部切取 。 ４ ． ３ 　 区熔锗锭的横截面尺寸用游标卡尺进行测量 ， 长度用直尺进行测量 。 ４ ． ４ 　 区熔锗锭的表面质量用目视检查 。 ５ 　 检验规则 ５ ． １ 　 检查和验收 ５ ． １ ． １ 　 产品应由供方技术监督部门进行检验 ， 保证产品质量符合本标准 （ 或订货合同 ） 的规定 ， 并填写 质量证明书 。 ５ ． １ ． ２ 　 需方应对收到的产品按本标准的规定进行检验 ， 如检验结果与本标准 （ 或订货合同 ） 的规定不符时 ， 应在收到产品之日起 １ 个月内向供方提出 ， 由供需双方协商解决 。 如需仲裁 ， 仲裁取样按 ５．４ 进行 。 ５ ． ２ 　 组批 区熔锗锭应成批提交验收 。 每批应由同一牌号的产品组成 ， 每批不大于 １００ｋｇ 。 ５ ． ３ 　 检验项目 ５ ． ３ ． １ 　 每批产品应对电阻率 、 尺寸外形 、 表面质量进行检验 。 ５ ． ３ ． ２ 　 ＺＧｅ０ 牌号的产品需制成锗单晶后对载流子浓度 、 载流子迁移率进行检验 。 ５ ． ４ 　 取样和制样 ５ ． ４ ． １ 　 尺寸外形和表面质量的检验应逐根进行 。 ５ ． ４ ． ２ 　 电阻率的检验取样按总根数的 １０％ 抽取 。 ５ ． ４ ． ３ 　 ＺＧｅ０ 牌号产品的载流子浓度和载流子迁移率的取样按每批随机抽取 １ 根 ， 并按附录 Ａ 规定的方法将其制备成锗单晶 。 ５ ． ５ 　 检验结果的判定 ５ ． ５ ． １ 　 尺寸外形或表面质量的检验结果不合格时 ， 判该根产品不合格 。 ５ ． ５ ． ２ 　 电阻率的检验结果不合格时 ， 判该批产品不合格 。 ５ ． ５ ． ３ 　 ＺＧｅ０ 牌号产品的载流子浓度或载流子迁移率的检验结果不合格时 ， 判该批产品不合格 ， 或由供需双方协商确定 。 ２ 犌犅 ／ 犜 １１０７１ — ２０１８ ６ 　 标志 、 包装 、 运输 、 贮存和质量证明书 ６ ． １ 　 标志 ６ ． １ ． １ 　 每根区熔锗锭应密封于聚乙烯薄膜袋中 ， 并在袋上贴上标签 ， 注明供方名称 、 商标 、 牌号和批号 。 ６ ． １ ． ２ 　 区熔锗锭应成箱包装 ， 每箱应注明 ： ａ ） 　 供方名称 ； ｂ ） 　 产品名称和牌号 ； ｃ ） 　 批号 。 ６ ． ２ 　 包装 ６ ． ２ ． １ 　 将密封于聚乙烯薄膜袋中的区熔锗锭放在泡沫塑料垫的凹槽内 ， 然后叠放入符合环保要求的包装箱内 ， 并用填料塞紧 ， 以防区熔锗锭窜动 。 每箱区熔锗锭质量不大于 ５０ｋｇ 。 包装箱外用包扎带捆牢 ， 箱外应有 “ 防震 ”“ 防潮 ”“ 防腐蚀 ” 字样或标志 。 ６ ． ２ ． ２ 　 ＺＧｅ０ 牌号区熔锗锭装箱时 ， 若客户有需求 ， 可在其中放入按附录 Ａ 制备的锗单晶及检测样品 。 锗单晶和检测样品分别密封装在聚乙烯薄膜袋内 ， 并计入批重 ， 并在箱外注明 “ 内有检测样品 ” 字样 。 ６ ． ３ 　 运输 、 贮存 区熔锗锭在运输和贮存过程中要防止机械损伤 、 防腐蚀 、 防潮 、 防震动 。 ６ ． ４ 　 质量证明书 每批产品应附有质量证明书 ， 其上注明 ： ａ ） 　 供方名称 、 地址 、 电话 、 传真 ； ｂ ） 　 产品名称和牌号 ； ｃ ） 　 批号 ； ｄ ） 　 分析检验结果和技术监督部门印记 ； ｅ ） 　 本标准编号 ； ｆ ） 　 出厂日期 （ 或包装日期 ）。 ７ 　 订货单 （ 或合同 ） 内容 本标准所列材料的订货单 （ 或合同 ） 应包括下列内容 ： ａ ） 　 产品名称 ； ｂ ） 　 牌号 ； ｃ ） 　 尺寸外形 、 电阻率及其他特殊要求 ； ｄ ） 　 数量 ； ｅ ） 　 本标准编号 ； ｆ ） 　 其他 。 ３ 犌犅 ／ 犜 １１０７１ — ２０１