ICS 03. 120.99 M 31 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 21194—2007 通信设备用的光电子器件的 可靠性通用要求 Generic reliability assurance requirements for optoelectronic devices used in telecommunications equipment 2007-11-14发布 2008-05-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 21194—2007 目 次 前言 1范围 2 规范性引用文件 3缩略语、术语和定义 3.1缩略语 3.2术语和定义 4可靠性评定的一般要求： 4.1光电子器件评定的目的 4.2评定的抽样方案 5试验程序和光电子器件的评定 5. 1 试验的一般要求 5.2 光电特性参数的测试 5. 3 物理特性测试项目 5. 4 机械完整性试验项目 5.5 加速老化试验 5.6 光电子器件的评定方法 GB/T 21194—2007 前言 本标准参照TelcordiaGR-468-CORE：2004《通信设备用光电子器件可靠性一般要求》，在光电子器 件评定的抽样方案、光电特性参数测试、物理特性测试、机械完整性测试和加速老化等技术方面保持一 致，在其他方面和文本结构上不同。 本标准由中华人民共和国信息产业部提出， 本标准由中国通信标准化协会归口。 本标准起草单位：武汉邮电科学研究院 本标准起草人：赵先明、刘坚、罗隧、郑林。 GB/T21194—2007 通信设备用的光电子器件的 可靠性通用要求 1范围 本标准规定了通信设备用光电子器件的术语、定义、可靠性评定的一般要求、试验程序和光电子器 件的评定方法。 本标准适用于通信设备用光电子器件，包括激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管 及其它们的组件。其他类似器件可参照执行。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准。然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研 究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB8898一2001音频、视频及类似电子设备安全要求 BellcoreTR-NWT-000870通信设备生产中静电放电的控制 MIL-STD-202G电子器件试验方法 MIL-STD-883F微电子器件试验方法 TelcordiaGR-63-CORE网络设备构建系统要求：物理保护 TelcordiaGR-78-CORE通信产品和设备的物理设计和制造的一般要求 TelcordiaGR-326-CORE单模光纤连接器和光纤跳线的一般要求 3缩略语、术语和定义 下列缩略语、术语和定义适用于本标准。 3.1缩略语 ACC Automatic Current Control 自动电流控制 APD Avalanche Photodiode 雪崩光电二极管 APC Automatic Power Control 自动功率控制 c Allowed failures 样品中允许失效数 co Central Office 中心局环境 Activation Energy Ea 激活能 ESD Electro-Static Discharge 静电放电 FIT Failure In Time 每十亿器件·小时的失效数 HBM Human Body Model 人体模型 LTPD Lot Tolerance Percent Defective 批允许不合格品百分数 0 Objective 目标 R Requirement 要求 SS Sample Size 特定的LTPD样品数 TO Transistor Outline 晶体管外形 UNC Uncontrolled 非受控环境 1 GB/T21194—2007 3.2术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3.2.1 可靠性 reliability 产品在规定的时间内完成规定功能的能力。 3.2.2 二极管diode 半导体晶片被分解成管芯后，将一个管芯安装在一个热沉上，称之为二极管。 3.2.3 组件module 将多个小元件，包括激光二极管、发光二极管、光电二极管和雪崩光电二极管，以及一个或多个其他 器件集成在一起，称之为组件。 3. 2. 4 中心局环境 COenvironment 长期在十5℃到十40℃，短期（例如96h，一年不超过15天）在最低一5℃到最高十50℃的工作环境， 称为中心局环境。 3.2.5 非受控环境 UNCenvironment 当设备机壳外的空气温度在一40℃到十46℃范围，或者阳光照射和光电子器件散热达到最大值时， 在机壳内，光电子器件周围的空气温度可达到十65℃的工作环境，称为非受控环境。 4可靠性评定的一般要求 4.1光电子器件评定的目的 光电子器件评定有两个基本目的。特性参数的评定是为了证实光电子器件满足设备生产者对性能 要求的能力。机械完整性和环境应力试验的评定是验证光电子器件基本设计、生产和材料以及工艺的 完整性，以保证光电子器件预期的长期可靠性。评定需要的文件： 一评定试验计划； 试验和测量项目； 一试验和测量程序； 一评定抽样方案和可以接受的试验样品不合格数量； 确认试验是否通过或失效的标准； 一记录试验数据的规范格式； 结果分布和试验失效的报告。 4.2评定的抽样方案 用于评定的可靠性试验样品应从最少3个晶片或3批（光电子二极管）经过筛选步骤的样品中随机 抽取。对于光电子器件组件，可用一个批次光电子器件组件的样品。 评定试验规定LTPD值一般是10或20，对应的样品数量是22或11。在LTPD值等于10时，如果 次抽取的样品中没有不合格的光电子器件，可以认为产品中的38个样品有一只不合格，通过了LTPD 为10%的标准。同样，LTPD值为20时，如果在最初的11只样品中发现一只不合格的光电子器件，第 二次应抽取7只样品进行试验。如果没有发现另外不合格的光电子器件，就符合LTPD为20%的标 准。评定的抽样方案见表1。 2