ICS 29.030 K 14 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T24270—2009 永磁材料磁性能温度系数测量方法 Method of measurement of temperature coefficient of magnetic properties of permanent magnetic materials 2009-06-19发布 2010-02-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T24270—2009 前言 本标准由中国电器工业协会提出。 本标准由全国电工合金标准化技术委员会（SAC/TC228）归口。 本标准起草单位：桂林电器科学研究所、中国计量科学研究院。 本标准主要起草人：谢永忠、林安利、贺建、陈京生、詹亚萍、崔得锋。 GB/T24270—2009 永磁材料磁性能温度系数测量方法 1范围 本标准规定了在闭合磁路中永磁材料剩磁和内烹矫顽力温度系数的测量方法。 本标准适用于各类永磁材料磁性能温度系数的测量。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB/T3217一1992永磁（硬磁）材料磁性试验方法 GB/T9637电工术语磁性材料与元件 3术语和定义 GB/T9637确立的以及下列术语和定义适用于本标准。 3. 1 剩磁温度系数 temperature coefficient of remanence α(B,) 由于温度变化而引起剩磁的相对变化与温度变化之比。 B,(T,)-B,(T) α(B,)= (1) B(T). (T, -T) 式中： α(B,) 剩磁温度系数，单位为%/K； T1 基础温度，单位为开（K)； 温度变化的上限温度，单位为开（K）； B,(T) 温度TI时的剩磁，单位为特（T)； B,(T2)- 温度T2时的剩磁，单位为特（T）。 3.2 内桌矫顽力温度系数 temperature coefficient of intrinsic coercivity a(H) 由于温度变化而引起内烹矫顽力的相对变化与温度变化之比。 H(T)-H(T) α(H)= .(2) H(T)·(T,-T) 式中： α(H) 内矫顽力的温度系数，单位为%/K； Ti 基础温度，单位为开(K)； T2 温度变化的上限温度，单位为开（K)； H(T)- 温度T时的内矫顽力，单位为安每米（A/m）； Hμ(T,)- 温度T，时的内矫顽力，单位为安每米（A/m）。 4测量装置 4.1闭合磁路测量装置 在闭合磁路中测量剩磁B，和内矫顽力H。的测量装置如图1所示。 GB/T242702009 H积分器 X-Y记录仪 或计算机 心磁谜 加热装置 B(I)积分器 图1 磁通密度和磁场强度测量装置 4.2磁化装置 测量装置中用于磁化试样的电磁铁或磁导计应符合GB/T3217—1992中5.1的规定。 4.3磁通积分器 测量装置中对于磁通积分器的规定按GB/T3217—1992的5.3和5.4。 5加热及测温装置 5.1加热装置 在闭合磁路中测量温度系数推荐采用图2所示的加热装置。 上极头 绝缘层 加热板 极靴 试择、II、R()探测线阁 热巾偶 下极头 图2在闭合磁路中测量温度系数的加热装置 5.2测温元件 本标准推荐采用热电偶测量温度，温度测量精度应不低于士0.5℃。 6试样 试样的形状、尺寸和其他要求按GB/T3217一1992中5.2的规定。 7测量方法 7.1温度测量范围 温度系数的温度测量范围按相关的产品标准规定或供需双方商定，推荐的温度测量范围为273K～ 373 K。 2 GB/T24270—2009 7.2 试样的磁化 测量前应将试样磁化至饱和，最低饱和磁化场的选择参见GB/T3217—1992中的附录B 7.3试样的温度循环 测量前应对试样进行温度循环处理，即将试样从温度T加热到高出温度T，20K后再自然冷却至 室温。这种温度循环至少进行一次。 7.4测量过程 对经过7.2和7.3处理的试样，按照GB/T3217—1992的5.5.2测量出T和T²时的B,和Hg。 8 数据处理 分别按式(1)和式（2)计算α(B,)和α(H）。 9 测试报告 测试报告应包括如下内容： 试样编号； 试样的材料牌号； 一试样的形状尺寸； 测量装置； 测量的温度范围； α(B,)和α(H）值； 一测试人员及校验人签字； 测试日期。