ICS17.240 F74 中华人民共和国国家标准 GB/T30142—2013 平 面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 Measuringmethodsforshieldingeffectivenessofplanarelectromagnetic shieldingmaterials 2013-12-17发布 2014-05-10实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅰ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 1 ……………………………………………………………………………………………… 3.1 电薄 1 ………………………………………………………………………………………………… 3.2 屏蔽效能 1 …………………………………………………………………………………………… 4 测量方法 2 ………………………………………………………………………………………………… 4.1 总则 2 ………………………………………………………………………………………………… 4.2 法兰同轴装置法 2 …………………………………………………………………………………… 4.3 屏蔽室法 6 …………………………………………………………………………………………… 5 报告要求 9 ………………………………………………………………………………………………… 附录A(资料性附录) 30MHz~1.5GHz法兰同轴装置结构图 10 …………………………………… 附录B(资料性附录) 30MHz~3GHz法兰同轴装置图 15 …………………………………………… 附录C(规范性附录) 屏蔽室谐振频率的计算 20 ………………………………………………………… 附录D(资料性附录) 屏蔽效能数据记录表格 21 ………………………………………………………… 参考文献 22 ……………………………………………………………………………………………………GB/T30142—2013 前 言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由中国电器工业协会提出。 本标准由全国电磁屏蔽材料标准化技术委员会(SAC/TC323)归口。 本标准起草单位:上海市计量测试技术研究院、中国计量科学研究院、东南大学、上海晨隆纺织新材 料有限公司、安方高科电磁安全技术(北京)有限公司、天津工业大学、山东天诺光电材料有限公司。 本标准起草人:桑昱、陈超婵、黄攀、蔡青、蒋全兴、陆福敏、来磊、黄建华、朱安东、齐鲁、朱焰焰。 ⅠGB/T30142—2013 平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 1 范围 本标准规定了10kHz~40GHz频率范围内平面型电磁屏蔽材料的电磁屏蔽效能测量方法。 本标准适用于电磁屏蔽织物、电磁屏蔽金属板、电磁屏蔽金属网、电磁屏蔽玻璃、电磁屏蔽薄膜、电 磁屏蔽塑料、电磁屏蔽橡胶等平面型电磁屏蔽材料的电磁波屏蔽效能的测量。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T25471—2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法 GB/T26667—2011 电磁屏蔽材料术语 3 术语和定义 GB/T26667—2011界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 电薄electricallythin 试样的厚度远小于(<1/100)试样的导电波长。 注:改写GB/T25471—2010,定义3.2。 3.2 屏蔽效能electromagneticshielding;SE 在同一激励下的某点上,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所测量到的电场强度、磁场强度或功率之比。 SE=20lg(E2/E1)(dB) 或SE=20lg(H2/H1)(dB) …………………………(1) 或SE=10lg(P2/P1)(dB) 式中: SE———屏蔽效能(dB); H1———无屏蔽材料时的磁场强度; H2———有屏蔽材料时的磁场强度; E1———无屏蔽材料时的电场强度; E2———有屏蔽材料时的电场强度; P1———无屏蔽材料时的功率; P2———有屏蔽材料时的功率。 注:屏蔽效能通常为负值,但习惯用其绝对值。 [GB/T26667—2011,定义2.1.7] 1GB/T30142—2013 4 测量方法 4.1 总则 法兰同轴装置法适用于电薄材料的屏蔽效能测量,根据测量频率范围分为30MHz~1.5GHz法兰 同轴装置法、30MHz~3GHz法兰同轴装置法。 屏蔽室法适用于屏蔽材料在10kHz~40GHz频率范围的屏蔽效能测量。屏蔽室屏蔽效能应大于 被测材料屏蔽效能至少6dB。也可采用屏蔽半暗室或屏蔽全暗室。 4.2 法兰同轴装置法 4.2.1 测量条件 测量条件应满足以下要求: a) 环境温度:23℃±5℃; b) 环境相对湿度:40%~75%; c) 大气压力:86kPa~106kPa; d) 试样测量前应在上述环境中保持48h; e) 环境电磁噪声对测量结果不应产生影响。 4.2.2 测量设备 4.2.2.1 法兰同轴装置 法兰同轴装置技术指标应满足以下要求: a) 频率范围:30MHz~1.5GHz或者30MHz~3GHz; b) 特性阻抗:50Ω; c) 电压驻波比:<1.2; d) 传输损耗:<1dB; e) 30MHz~1.5GHz法兰同轴装置的结构尺寸参见附录A;30MHz~3GHz法兰同轴装置的 结构尺寸参见附录B。 4.2.2.2 信号发生器 信号发生器技术指标应满足以下要求: a) 频率范围:根据测量需求选择; b) 输出阻抗:50Ω; c) 电压驻波比:<2.0; d) 最大输出功率:≥13dBm。 4.2.2.3 频谱分析仪 频谱分析仪技术指标应满足以下要求: a) 频率范围:根据测量需求选择; b) 特性阻抗:50Ω; c) 频谱分析仪最小分辨率带宽:≤1kHz。 2GB/T30142—2013 4.2.2.4 带跟踪信号源的频谱分析仪 带跟踪信号源的频谱分析仪技术指标应满足以下要求: a) 频率范围:根据测量需求选择; b) 跟踪信号源最大输出功率:≥0dBm; c) 跟踪信号源电压驻波比:<2.0; d) 频谱分析仪最小分辨率带宽:≤1kHz。 4.2.2.5 网络分析仪 网络分析仪技术指标应满足以下要求: a) 频率范围:根据测量需求选择; b) 特性阻抗:50Ω; c) 电压驻波比:<2.0; d) 中频带宽:≤1kHz。 4.2.2.6 衰减器 衰减器技术指标应满足以下要求: a) 频率范围:根据测量需求选择; b) 特性阻抗:50Ω; c) 驻波比:<1.2; d) 衰减量:≥6dB(额定功率≥1W)。 4.2.2.7 电缆及连接线 电缆及连接线技术指标应满足以下要求: a) 特性阻抗:50Ω; b) 连接器:N型。 4.2.3 测量频率点 采用法兰同轴装置法开展测量时,推荐在30MHz、80MHz、300MHz、450MHz、915MHz、 1GHz、1.5GHz、1.8GHz、2.45GHz、3GHz等频率点给出测量结果,并尽量满足用户对测量频率范围 和频率点的要求。 4.2.4 被测试样要求 用法兰同轴装置测量屏蔽效能的被测试样应满足以下要求: a) 被测试样分参考试样和负载试样,参考试样和负载试样应是电薄材料。 b) 参考试样和负载试样的材质应相同,30MHz~1.5GHz法兰同轴装置法对被测试样的形状和 尺寸要求见图1,30MHz~3GHz法兰同轴装置法对被测试样的形状和尺寸要求见图2。图 1a)、图2a)中参考试样分为两部分(画有网纹部分),测量时,中间圆形部分安装在装置的中心 导体上,环形部分安装在装置的外导体法兰上。 c) 被测试样应在温度23℃±5℃、相对湿度40%~75%的条件下存放48h后,立即开展测量。 d) 参考试样和负载试样厚度应相等(当两种试样平均厚度之差小于25μm时,本方法认为参考 试样和负载试样厚度相等),各自表面各点厚度之差应小于平均厚度的5%。 e) 将被测试样夹放在法兰同轴装置中,并夹紧被测试样,使被测试样与装置法兰面紧密接触,避 3GB/T30142—2013 免因接触不良而引起的测量误差。 f) 由于噪声电平会影响接收机的灵敏度,因此测量屏蔽效能值高于60dB以上的待测试样时应 使用双层屏蔽或半刚性电缆。 单位为毫米 a) 参考试样 b) 负载试样 图1 参考试样和负载试样的尺寸要求(30MHz~1.5GHz法兰同轴装置法) 单位为毫米 a) 参考试样 b) 负载试样 图2 参考试样和负载试样的尺寸要求(30MHz~3GHz法兰同轴装置法) 4.2.5 测量方法 用法兰同轴装置对平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能开展测量时,常用的测量方法有:信号发生器/ 频谱分析仪测量方法、带跟踪信号源的频谱分析仪测量方法、网络分析仪测量方法。 4.2.5.1 信号发生器/频谱分析仪测量方法 使用信号发生器/频谱分析仪测量方法的步骤如下: a) 按图3连接测量系统,将满足4.2.2.2要求的信号发生器通过衰减器接入该装置