ICS35.240.40 L63 中华人民共和国国家标准 GB/T26225—2010 信 息技术 移动存储 闪存盘通用规范 Informationtechnology—Mobilestorage— Generalspecificationofflashdisk 2011-01-14发布 2011-05-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 2 ……………………………………………………………………………………………… 4 要求 2 ……………………………………………………………………………………………………… 5 试验方法 4 ………………………………………………………………………………………………… 6 检验规则 6 ………………………………………………………………………………………………… 7 标志、包装、运输和贮存 8 ………………………………………………………………………………… 附录A(规范性附录) 故障的分类及判据 9 ……………………………………………………………… ⅠGB/T26225—2010 前 言 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国信息技术标准化技术委员会归口。 本标准起草单位:中国电子技术标准化研究所、普天信息技术研究院、联想(北京)有限公司、方正科 技集团股份有限公司、北京华旗资讯数码科技有限公司、深圳市朗科科技有限公司、TCL集团股份有限 公司、常州市音成电子有限公司、北京大恒创新技术有限公司、重庆禾兴江源科技有限公司、上海华虹集 成电路有限责任公司、北京纽曼理想数码科技有限公司、武汉天喻信息产业股份有限公司、浙江欣成达 光电科技有限公司。 本标准主要起草人:王立建、张力、张宇宏、李高强、熊国平、任建强、唐怀飞、李诺、秦柏、江卫强、 谢春生、严小平、杨宇光、熊安艺、徐中强、刘昌魁、石磊、王涛、王元成。 ⅢGB/T26225—2010 信息技术 移动存储 闪存盘通用规范 1 范围 本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等相关 内容。 本标准适用于闪存盘(以下简称“产品”),其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T191—2000 包装储运图示标志(eqvISO780:1997) GB/T242.1—2008 电工电子产品环境试验 概述和指南(IEC60068-1:1988,IDT) GB/T2422—1995 电工电子产品环境试验 术语(IEC60068-5-2:1990,EQV) GB/T2423.1—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2- 1:2007,IDT) GB/T2423.2—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2- 2:2007,IDT) GB/T2423.3—2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 (IEC60068-2-78:2001,IDT) GB/T2423.5—1995 电工电子产品环境试验 第5部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击(idt IEC60068-2-27:1987) GB/T2423.6—1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞(idt IEC60068-2-29:1987) GB/T2423.8—1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Ed:自由跌落(idt IEC60068-2-32:1990) GB/T2423.10—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦) (IEC60068-2-6:1995,IDT) GB/T2828.1—2003 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样 计划(ISO2859-1:1999,IDT) GB/T2829—2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB/T5080.7—1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试 验方案(idtIEC60605-7:1978) GB/T5271.14—2008 信息技术 词汇 第14部分: 可靠性、可维护性与可用性(ISO2382- 14:1997,IDT) GB9254—2008 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法(CISPR22:2006,IDT) GB/T9813—2000 微型计算机通用规范 GB/T17618—1998 信息技术设备抗扰度限值和测量方法(idtCISPR24:1997) 1GB/T26225—2010 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3.1 闪存盘 flashdisk 闪盘 闪存棒 flashstick 以数据存储为主要功能,使用快闪存储器作为存储媒体,以USB为主要接口的存储设备。 3.2 容量 capacity 存储设备存储数据大小的能力。 3.3 快闪存储器 flashmemory 可擦写的存储器件,它在断电的情况下数据不丢失。 4 要求 4.1 设计要求 设计产品时,应进行安全、可靠性与维修性设计。产品设计应遵循通用化、系列化、标准化和兼容性 的原则。 4.2 外观及结构要求 产品的表面不应有明显的凹痕、毛刺、划伤、裂缝、变形等现象;产品的表面镀、涂层应均匀,应无凝 结、脱落、色差、龟裂和磨损等现象;产品的紧固部分应紧固无松动;活动部件应灵活可靠;产品外壳表面 应有型号、容量标志,其标志应简洁、清晰、牢固。 4.3 功能和性能要求 4.3.1 适用的环境 在产品使用说明(说明书、快速指导、随机光盘、包装等任意一种介质)中应标出适用的计算机机型 和操作系统。 4.3.2 数据读取和写入速度 产品的数据读取速度不低于600kB/s,数据写入速度不低于500kB/s。 k=1024; B表示字节,每字节包含8位二进制数据。 4.3.3 存储容量 在产品包装上必须标明所使用闪存芯片的标称容量,产品实际可使用容量大于标称容量的90%或 者在产品包装上明示可使用容量。 4.3.4 电源电压 产品在计算机系统中实际工作时,应满足的要求见表1。 表1 产品USB接口的直流工作条件 参 数 符 号 最小值 标称值 最大值 单 位 电源电压 VDD 4.75 5 5.25 V 高电平电压 VIH 2.0 — VDD+0.2 V 低电平电压 VIL 0 0 0.8 V 所有电压都以逻辑地为参考(VDD-VSS=5V±10%,TA=25℃)。 2GB/T26225—2010 4.3.5 标识要求 产品上表示产品工作状态和功能的标识应使用明显的中文或图形符号标识说明,在产品说明书中 必须包含图形标识符的解释。 4.4 电磁兼容性 4.4.1 无线电骚扰 产品的无线电骚扰限值应符合GB9254—2008的规定。 4.4.2 抗扰度 产品的抗扰度限值应符合GB/T17618—1998的规定。 4.5 环境适应性 4.5.1 气候环境适应性要求见表2。 表2 气候环境适应性 气候条件 工 作 贮存运输 温度 10℃~40℃ -30℃~+55℃ 相对湿度 35%RH~80%RH 20%RH~93%RH(40℃) 气压 86kPa~106kPa 4.5.2 机械环境适应性要求应符合GB/T9813—2000中4.8.2的规定。其中 a) 振动适应性要求见表3。 表3 振动适应性 试验项目 指 标 初试和最后振动响应检查频率范围/Hz 10~55 扫描速度/(oct/min) 1 驱动振幅/mm 0.15 定频耐久试验驱动振幅/mm 0.15 持续时间/min 30±1 扫频耐久试验频率范围/Hz 10~55~10 驱动振幅/mm 0.15 扫频速度/(oct/min) 1 循环次数 5 表中驱动振幅为峰值。 b) 冲击适应性要求见表4。 表4 冲击适应性 峰值加速度/(m/s2) 脉冲持续时间/ms 冲击波形 150 11 半正弦波 c) 碰撞适应性要求见表5。 表5 碰撞适应性 峰值加速度/(m/s2) 脉冲持续时间/ms 碰撞次数 50 16 1000 d) 跌落要求 1) 运输包装件跌落要求见表6。 3GB/T26225—2010 表6 运输包装件跌落适应性 包装件质量/kg 跌落高度/mm ≤15 1000 2) 裸机跌落要求见表7。 表7 裸机跌落适应性 裸机跌落(受试样品不带包装) 跌落高度/mm 750 次数 5 跌落承载面为钢板。 4.6 可靠性 产品无故障使用插拔次数大于2000次,产品机械结构无损坏,USB接口无变形,产品可正常读写 全部数据。 5 试验方法 5.1 试验环境条件 本标准中除气候环境试验、可靠性试验以外,其他试验在下述试验用标准大气