ICS 01. 040. 37:37. 020 N 33 中华人民共和国国家标准 GB/T 23414--2009/ISO 22493:2008 微束分析扫描电子显微术 ‧术语 Microbeam analysis--Scanning electron microscopy- Vocabulary (1SO 22493:2008,IDT) 2009-04-01发布 2009-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T 23414—2009/ISO 22493:2008 目次前言引言 II 范围缩略语 3 SEM物理基础术语： SEM仪器术语. 5 SEM成像和图像处理术语 6 SEM图像诠释和分析术语 14 7 SEM图像放大倍率和分辨率校正及测量术语 16 参考文献…. 18 中文索引…… 19 英文索引 22

GB-T 23414-2009 微束分析扫描电子显微术术语

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