ICS 31.080. 01 L40 中华人民共和国国家标准 GB/T4937.3—2012/IEC60749-3:2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 Semiconductordevices- Mechanical and climatic tests methods- Part 3:External visual examination （IEC60749-3:2002,IDT) 2012-11-05发布 2013-02-15实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 数码防伤
GB-T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
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