ICS 71.040.40 G 04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T38532—2020/IS013067:2011 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 Microbeam analysis-Electron backscatter diffraction- Measurement of average grain size (ISO13067:2011,IDT) 2020-03-06发布 2021-02-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T38532—2020/ISO13067:2011 目 次 前言 引言 1 范围 2 规范性引用文件 3术语和定义 3.1 与EBSD晶粒尺寸测量相关的术语 3.2 EBSD测定的与晶粒和晶界有关的术语 3.3 晶粒尺寸测定相关术语 3.4 与数据修正和EBSD取向图不确定度有关的术语 用于晶粒尺寸测定的EBSD图像的获取 4.1 硬件要求 4.2 软件要求 5 测量EBSD晶粒尺寸的图像采集 5.1 样品制备 5.2 确定样品轴 5.3 样品台定位和校准 5.4 线性校正 5.5 初步检查 5.6 步长选择 5.7 所需角精度水平的确定 5.8 分析区域和图像尺寸的选择 5.9 测量塑性变形材料时的注意事项 6 分析过程 6.1 晶界的确定 6.2 原始数据的后处理 6.3 数据清理步骤 10 6.4 晶粒尺寸的测量 13 6.5 数据的发布 13 7测量不确定度 13 8分析结果的报告 4 附录A（资料性附录） 晶粒尺寸的测量 15 参考文献 17
GB-T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
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