GB-Z 31477-2015 航空电子过程管理 航空电子产品高加速试验定义和应用指南

ICS49.020 V04 C 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件 GB/Z31477—2015/IEC/TS62500:2008 航空电子过程管理航空电子产品高加速试验定义和应用指南 Process management for avionics-Defining and performing highly accelerated tests in aerospace systems-application guide （IEC/TS62500:2008,IDT) 2015-05-15发布 2016-01-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 1 GB/Z31477—2015/IEC/TS62500:2008 目次前言引言 IV 1范围 2术语、定义和缩略语 3 高加速试验的目标和一般原则 3 4. 高加速试验应用的相关工业技术领域 5 实施高加速试验的产品寿命阶段和层次高加速试验的计划与管理高加速试验的通用方法 8 经验积累与应用· 14 9 顾客与供应商之间的关系· 15 10经济性分析 17 附录A（资料性附录）应力裕度的统计特性 -示例：通讯电路板或者板级组件附录B（资料性附录）高加速试验与可靠性试验的比较 21 附录C（资料性附录）根据产品的敏感点确定应力或载荷对产品的潜在作用 22 附录D（资料性附录）高加速试验流程， 23 参考文献 25 图1利用高加速试验寻找产品应力裕度的原理图2推迟上市时间产生的经济损失 18 图A.1 试验应力极限选择示例 20 图 D.1 试验实施概要流程图 23 图D.2 试验实施详细流程图 24 表 B.1 高加速试验与可靠性试验特点比较表C.1根据产品的敏感点确定应力或载荷对产品的潜在作用 22 1 2

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